Teseq特測(cè)NSG 4070C1射頻抗擾度測(cè)試系統(tǒng)
Teseq特測(cè)NSG 4070C1射頻抗擾度測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品介紹
NSG 4070C1射頻抗擾度測(cè)試系統(tǒng)是一種多功能設(shè)備，用于執(zhí)行 EMC 抗擾度測(cè)試，以根據(jù) IEC / EN 61000-4-6、Namur 和多個(gè)汽車(chē) BCI 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行開(kāi)發(fā)和一致性測(cè)試。任何花費(fèi)大量時(shí)間設(shè)置測(cè)試電平、連接 EUT 監(jiān)控或編寫(xiě)測(cè)試報(bào)告的人現(xiàn)在都可以使用第 5 代 NSG 4070 以更有效的方式進(jìn)行抗擾度測(cè)試。
NSG 4070C1其模塊化設(shè)置使用內(nèi)部或外部放大器支持多種應(yīng)用。強(qiáng)大且易于使用的固件使 NSG 4070 獨(dú)立于外部 PC 和控制軟件，但也可以遠(yuǎn)程控制系統(tǒng)操作。插入前面板的 USB 記憶棒提供的測(cè)試和測(cè)量數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)傳輸，用于文檔記錄。
NSG 4070C1是一款80W，150kHz - 230MHz抗擾度測(cè)試儀器，符合IEC / EN 61000-4-6標(biāo)準(zhǔn)。Teseq NSG 4070C型號(hào)還滿(mǎn)足其他汽車(chē)標(biāo)準(zhǔn)，包括Namur要求。Teseq NSG 4070C的模塊化特性允許各種頻率選項(xiàng)，可用于多種應(yīng)用。通過(guò)將USB記憶棒插入前面板，將數(shù)據(jù)從4070C傳輸?shù)接?jì)算機(jī)。
Teseq特測(cè)NSG 4070C1射頻抗擾度測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品特點(diǎn)
集成信號(hào)發(fā)生器 4 kHz 至 1 GHz
3 個(gè)功率計(jì)輸入 4 kHz 至 1 GHz
多個(gè) EUT 監(jiān)控選項(xiàng)
5,7“ TFT彩色顯示屏
基于菜單的內(nèi)部控制軟件
包括基本的遠(yuǎn)程控制軟件和報(bào)告生成器
光解耦遙控器
耳語(yǔ)模式
產(chǎn)品參數(shù)
RF 頻率范圍：4 kHz - 1 GHz
分辨率：1 Hz
參考頻率：10 MHz
射頻電平 電平范圍：-60 dBm至+10 dBm
分辨率：0.1 dB
調(diào)幅 調(diào)制深度：0 - 100％
調(diào)制頻率范圍：1 Hz - 50 kHz
頻率分辨率：1 Hz
脈沖調(diào)制 上升/下降時(shí)間（10％/ 90％）：<1μs
調(diào)制頻率范圍：0.1 Hz - 1 MHz
頻率分辨率：0.01 Hz
占空比：0.1％至100％
外部調(diào)制 延遲時(shí)間：<1μs/ 180°
周期：分鐘。20μs
脈沖寬度：min。10μs
Teseq特測(cè)NSG 4070C1射頻抗擾度測(cè)試系統(tǒng) 滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)
IEC/EN 基本標(biāo)準(zhǔn)
IEC 61000-4-3 IEC 61000-4-6 IEC 61000-4-20 IEC 61000-4-21
CISPR 標(biāo)準(zhǔn)
CISPR 24
IEC/EN 通用標(biāo)準(zhǔn)
EN 61000-6-1 EN 61000-6-2
IEC/EN 產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60533 IEC 60601-1-2 IEC 61326
