首頁(yè)>>廣東歐可檢測(cè)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>高壓加速老化試驗(yàn)箱>>高溫高壓試驗(yàn)箱
PCT高溫高壓測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
PCT高溫高壓測(cè)試儀適用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相...
PCT高壓壽命試驗(yàn)箱 參考價(jià)：面議
PCT高壓壽命試驗(yàn)箱裝置：1、鍋內(nèi)裝置：鍋門若未關(guān)緊則機(jī)器無(wú)法啟動(dòng)。 2、閥：當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過(guò)zui大工作值自動(dòng)排氣泄壓。 3、雙重過(guò)熱保護(hù)裝置：當(dāng)鍋內(nèi)溫度過(guò)高時(shí)...
pct高溫高壓蒸煮鍋 參考價(jià)：面議
pct高溫高壓蒸煮鍋是測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品，元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬...
芯片高溫高濕高壓試驗(yàn)箱 參考價(jià)：面議
芯片高溫高濕高壓試驗(yàn)箱用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC...
高壓加速壽命試驗(yàn)箱HAST 參考價(jià)：面議
高壓加速壽命試驗(yàn)箱HAST用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的磨耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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