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方案優(yōu)勢：幾乎所有采用激光散射法的粒度分析儀器在測試時都沒有考慮粒子的形狀，不重視粒子的尺寸，原因是在于利用分析過程中獲得的原始數(shù)據(jù)計算粒徑分布時的基本假設(shè)。 用于計算粒徑分布的數(shù)學(xué)模型是基于球形體系的，因此所有粒徑分布結(jié)果都是被分析材料的等效的球狀分布。在大多數(shù)實例中，這個結(jié)果相當(dāng)合理，因為大多數(shù)粒子都足于近似為球形體系。 貝克曼庫爾特LS™系列粒度分析儀采用一種偏振光散射技術(shù)來分析亞微粒子，這種技術(shù)將通過具體實例來解釋用PIDS 系統(tǒng)是如何對非球形粒子進行分析的。 基于這個原因，貝克曼庫爾特公司開發(fā)出了高分辨率亞微粒子粒徑分析的PIDS 技術(shù)，完*了亞微粒子粒徑分析的問題。 PIDS 技術(shù)并不復(fù)雜，并且具有安裝容易的以及能夠用光散射的Mie 理論解釋的優(yōu)點。 PIDS 技術(shù)依賴于光的傳播特性，即光線包含一個磁性向量和一個電向量，二者成九十度角。例如如果電向量是上下方向，這個光就叫做垂直偏振光。 當(dāng)我們用一個已知波長的偏振光照射試樣時，試樣內(nèi)的電子的振動電場將形成一個偶極子或單一振動環(huán)，這些單一振動環(huán)將與所傳播的光在同一個平面內(nèi)，粒子內(nèi)的振動偶極子向除入射光源方向外的其他方向散射光線在這方面PIDS 技術(shù)具有優(yōu)勢，用三種波長的光同時照射試樣(先用水平然后垂直的偏振光)，我們測試到從試樣散射或輻射的光都超過一個角度范圍。 通過分析每個波長下水平和垂直方向散射光的不同，我們獲得了試樣粒徑分布的信息。應(yīng)該注意到我們僅僅是分析在垂直和水平方向上信號的不同而不是具體的數(shù)值。 從PIDS 信號獲得的強度對散射角的信息使用